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在硅太陽能電池板的生產(chǎn)過程中，硅晶體中的應(yīng)力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應(yīng)力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片，當(dāng)這臺儀器被用作質(zhì)量控制工具時，在后續(xù)加工成本發(fā)生之前，可以識別出低質(zhì)量的硅錠或鋼錠。此外，該儀器還為硅晶體的生長提供了一種提高硅錠質(zhì)量的工具，使其能夠生產(chǎn)出較薄的硅片，降低了機(jī)械產(chǎn)量損失。

Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評估的主要應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調(diào)制器（ PEM）基于Exicor®雙折射測量技術(shù)。新一代的雙折射測量系統(tǒng)為該行業(yè)提供了分析和開發(fā)下一代光刻透鏡、透鏡毛坯和高價值精密光學(xué)的新能力。

圓二色性測量系統(tǒng)使用垂直光路直接從標(biāo)準(zhǔn)孔板測量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉(zhuǎn)移到試管中進(jìn)行篩選，也不需要在分析過程中清洗試管

各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計(jì)是一個重大的突破，光學(xué)各向異性測量技術(shù)更快、更準(zhǔn)確、收集更多的數(shù)據(jù)。

Strokes 偏振計(jì)在光學(xué)元件表征、光學(xué)系統(tǒng)光束輸出特性、天文學(xué)、光纖制造、光源和激光質(zhì)量控制等方面有著廣泛的應(yīng)用。

雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER為學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究人員提供了評估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業(yè)材料。

雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS，設(shè)計(jì)減去了光學(xué)系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM調(diào)制。